1.基體金屬磁性質
磁性法測厚受基體金屬磁性變動的影響（在實際運用中，低碳鋼磁性的變動可以認為是輕微的），為了防止熱處理和冷加工因素的影響，應運用與試件基體金屬具備相似性質的標準片對涂層鍍層測厚儀實行校準；亦可用待涂覆試件實行校準。
2.基體金屬電性質
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材質成分及熱處理方式相關。運用與試件基體金屬具備相同性質的標準片對儀器實行校準。
3.基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
4.邊緣效應
涂層鍍層測厚儀對試件外表面形狀的陡變敏感。因而在接近試件邊緣或內(nèi)轉角處實行測量是不牢靠的。
5.曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少顯著地增大。因而，在彎曲試件的外表面上測量是不靠譜的。
6.試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因而在這些試件上不能測出正確的數(shù)據(jù)。
7.表面糙粗糙度
基體金屬和覆蓋層的外表面毛糙程度對測量有影響。毛糙程度增大，影響增大。毛糙外表面會致使系統(tǒng)誤差和偶爾誤差，每次測量時，在不同地方上應添加測量的次數(shù)，以克制這種偶爾誤差。假如基體金屬毛糙，還必需在未涂覆的毛糙度相似的基體金屬試件上取幾個位置校正涂層鍍層測厚儀的零點；或用對基體金屬沒有侵蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校正涂層測厚儀的零點。
8.磁場
四周各種電氣設施所發(fā)生的強磁場，會重大地預擾磁性法測厚工作。
9.附著物質
涂層鍍層測厚儀對那些阻礙測頭與覆蓋層外表面嚴密接觸的附著物質敏感，因而，必需消除附著物質，以保障儀器測頭和被測試件外表面直接接觸。
10.測頭壓力和側頭取向
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因而，要維持壓力恒定。測頭的安放方式對測量有影響。涂層鍍層測厚儀在測量中，該當使測頭與試樣外表面維持垂直。